近日，电气与电子工程师协会(IEEE)电介质及电气绝缘学会(Dielectrics and Electrical Insulation Society, DEIS)在全球范围内评选出了本年度的6位IEEE DEIS Graduate Fellowship获奖者，其中，电机系4位学子获奖，并将获得每人5000美元的奖学金。

IEEE DEIS Graduate Fellowship由IEEE电介质及电气绝缘学会创办，旨在为全球从事电气绝缘及电介质环境相关领域的研究生提供帮助。研究生的研究课题可以涵盖包括绝缘介质，介电特性及击穿，电荷传输，高电压效应等广泛的领域。该奖项的评估标准主要是研究生课题内容的创新性、所选主题的影响力以及研究生在获奖期间完成目标的能力。该奖项获奖者由DEIS教育委员会的成员讨论得出。2021年度，清华大学电机系裴家耀、王少杰、王天宇、成桑4名博士生获此殊荣。

裴家耀的获奖项目为“基于电极-电介质界面工程的高温电介质损耗抑制”，指导老师为党智敏教授。聚合物电介质材料在高温高场下会产生严重的损耗问题，裴家耀的研究课题针对这一问题，提出基于电极-电介质界面工程的高温电介质损耗抑制方法，通过抑制界面电荷注入提高电介质材料在高温下的充放电效率与击穿强度。

裴家耀

王少杰的获奖项目为“模型聚合物帮助认知纳米电介质中的界面”，由何金良教授、李琦副教授共同指导。界面被认为是纳米电介质性能提升的关键因素，该项工作提出了一种研究纳米电介质界面的新策略，能够抓取纳米电介质界面的本质特征，提供对界面结构与性能的直接实验证据，构建全新的纳米电介质界面模型，并指导纳米电介质的设计。

王少杰

王天宇的获奖项目为“直接调控绝缘材料陷阱抑制表面电荷积聚的研究”，由梁曦东教授和张贵新教授共同指导。绝缘材料表面电荷积聚会导致局部电场畸变，诱发沿面闪络的发生，造成绝缘失效并导致设备的损坏，其根本原因为聚合物载流子陷阱。该项工作对绝缘材料中陷阱进行了深入研究，提出通过直接调控聚合物的陷阱参数实现抑制绝缘子表面电荷积聚、提升沿面闪络电压的思路，并给出了可运用于实际工业中的直接调控陷阱参数的材料改性方案。

王天宇

成桑的获奖项目为“用于高性能高温介电材料的表面包覆型聚合物”，指导老师为李琦副教授。薄膜电容器的新兴应用场景要求提升薄膜电容器的使用温度，该项目工作通过在聚合物电介质表面沉积纳米级厚度的无机绝缘层，调控电极/电介质界面处的电荷注入势垒，抑制电荷注入，降低传导损耗，从而大幅提升高温绝缘特性。这一方法避免了传统纳米掺杂改性方法带来的电介质薄膜均一性差、生产效率低等问题，具有广阔的工业化应用前景。

成桑